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當(dāng)前位置：濟(jì)南思克測(cè)試技術(shù)有限公司>>產(chǎn)品展示>>材料厚度檢測(cè)
THI-薄膜及紙張測(cè)厚儀：適用于塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
全自動(dòng)高精度0.1μm薄膜測(cè)厚儀：適用于塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
THI-思克薄膜紙張測(cè)厚儀：適用于塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
電池極片材料厚度檢測(cè)儀適用于：塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測(cè)量。
全自動(dòng)薄膜測(cè)厚儀-濟(jì)南思克適用于：塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測(cè)量。
PE/PP/PTFE塑料薄膜測(cè)厚儀適用于：塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測(cè)量。注：產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格如有變更，恕不另行通知，SYSTESTER思克保...
思克-高精度薄膜測(cè)厚儀：適用于塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測(cè)量。
包裝材料薄膜厚度測(cè)試儀：適用于塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
煙包材料測(cè)厚儀適用于：塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的測(cè)量。注：產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格如有變更，恕不另行通知，SYSTESTER思克保留修改權(quán)與解釋權(quán)！
濟(jì)南思克-薄膜厚度儀適用于：塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
薄膜厚度檢測(cè)儀適用于：塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測(cè)量。注：產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格如有變更，恕不另行通知，SYSTESTER思克保留修改權(quán)與解釋權(quán)！
薄膜復(fù)合膜接觸式測(cè)厚儀：適用于塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
高精度薄膜和薄片厚度測(cè)量?jī)x適用于：塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測(cè)量。
濟(jì)南思克全自動(dòng)高精度薄膜測(cè)厚儀適用于：塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測(cè)量。
薄膜/金屬箔/紙張測(cè)厚儀適用于：塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測(cè)量。
鋁塑復(fù)合膜鋁塑測(cè)厚儀適用于：塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測(cè)量。
精準(zhǔn)全自動(dòng)厚度測(cè)試儀適用于：塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測(cè)量。
薄膜金屬箔厚度測(cè)試儀適用于：塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測(cè)量。注：產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格如有變更，恕不另行通知，SYSTESTER 思克保留修改權(quán)與最...
高精度塑料薄膜厚度測(cè)試儀-思克：適用于塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測(cè)量。
紙塑薄膜 復(fù)合膜厚度測(cè)試儀：適用于各種封邊的封口強(qiáng)度、熱封質(zhì)量、整袋脹破壓力、泄漏性能的量化測(cè)定
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