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集成電路產(chǎn)品EMC測試系統(tǒng)是嚴格按照IEC 61967和IEC 62132系列進行設(shè)計，整套系統(tǒng)的功能和性能不僅能夠滿足上述兩大類標準要求的測試項目。而且在系統(tǒng)的關(guān)鍵技術(shù)具有創(chuàng)新性、實踐可行性，滿足各類集成電路模塊、各類存儲芯片、各類電源管理芯片、各類接口芯片、各類時鐘芯片以及運放等。

集成電路產(chǎn)品EMC測試系統(tǒng)的測試項目有：EMI類、EMS類。

EMI類：依據(jù)IEC 61967系列標準；

TEM小室法—輻射發(fā)射測試；

表面掃描法—輻射發(fā)射測試；

1Ω/150Ω直接耦合法—傳導發(fā)射測試；

EMS類（頻域）：依據(jù)IEC62132系列與IEC 62215系列標準；

TEM小室法—輻射敏感度測試；

大電流注入法—傳導敏感度測試；

直接功率注入法—傳導敏感度測試；

電快速脈沖群（EFT）注入法—傳導敏感度測試；

靜電放電（ESD）注入法—傳導敏感度測試；

TEM小室法—輻射發(fā)射測試的測試目的：在150kHz~1GHz內(nèi)測試IC輻射發(fā)射。適用于封裝/片內(nèi)去耦/引腳分布等的優(yōu)劣判別，測試要滿足以下條件。

測試布置：

使用TEM小室作為接收傳感器，然后使用EMI測試接收機/頻譜儀進行測量。

測試方法：

為了保證重復性，環(huán)境溫度保持于18℃～28℃；測試環(huán)境的背景電磁噪聲至少低于極限線值6dB；在測試之前，集成電路應(yīng)使用適當?shù)某绦蚣虞d并處于穩(wěn)定狀態(tài)；待測集成電路的供電特性應(yīng)符合集成電路制造商要求。

測試步驟：

第一步：按測試布置進行環(huán)境溫度及背景電磁噪聲測試，此時待IC不上電；

第二步：待測IC上電，并進行功能測試，需要對IC的軟件加載，并一直到其處于穩(wěn)定狀態(tài)；

第三步：對待測IC進行輻射發(fā)射測量；

第四步：將待測IC與測試夾具旋轉(zhuǎn)90o，重復第三步測試，直至四個可能的方向均完成輻射發(fā)射測量。