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X熒光射線測厚儀性能優(yōu)勢信息

時間:2025/7/4閱讀:113
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無損檢測:采用 X 射線熒光技術(shù),在不破壞樣品的前提下完成厚度測量,這對于一些珍貴樣品或不允許破壞的產(chǎn)品檢測尤為重要。例如,在文物保護(hù)領(lǐng)域,對于古代金屬器物表面鍍層厚度的測量,費希爾 X 熒光射線測厚儀能夠在不損傷文物的情況下提供準(zhǔn)確數(shù)據(jù)。

測量范圍廣:能夠測量從極薄的鍍層到較厚的材料,元素測量范圍涵蓋從氯(17)到鈾(92),最多可同時測量 24 種元素、23 層鍍層。無論是簡單的單鍍層結(jié)構(gòu),還是復(fù)雜的多層合金鍍層,都能準(zhǔn)確測量。

自動化程度高:部分型號如 XDL 240 具備自動化的工作臺移動和測量流程控制功能,減少了人為操作誤差,提高了測量效率和準(zhǔn)確性。在工業(yè)生產(chǎn)線上,能夠快速、連續(xù)地對產(chǎn)品進(jìn)行厚度檢測,為生產(chǎn)過程的質(zhì)量控制提供及時反饋。

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