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在X射線熒光分析中，物質中所含的每種元素都會產生多種特征X射線，因此需要一種裝置使用適當的方法將它們分離并分別測量它們的強度。根據檢測X射線的方法，有兩種類型的設備。它們是波長色散(WDX)和能量色散(EDX)。1.波長色散裝置這是一種使用分光元件將X射線分離成波長并將其引導至探測器的設備。該探測器僅測量目標特征X射線的強度，具有高波長分辨率和優(yōu)異的測量靈敏度和精度。然而，測量樣品的表面必須光滑，并且分光元件和探測器必須精確旋轉，使得設備大型且昂貴。2、能量分散裝置熒光X射線直接進入探測器，接收
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優(yōu)點X射線熒光光譜儀可以在短時間內同時測量幾乎所有比鎂重的元素?？梢詫腆w和液體進行無損分析，如果使用手持設備，則可以隨身攜帶它到任何地方，只需將設備壓在待分析物體上幾秒鐘即可完成測量。缺點X射線熒光光譜儀不擅長檢測輕元素，不適合分析有機物的主要構成元素氫、碳、氮、氧。此外，只能測量元素的存在和數量，但不可能確定元素的組合。例如，如果檢測到鐵，則無法確定它是金屬鐵還是氧化鐵，因此即使檢測到鉀和氯，也無法斷定存在lv化鉀。
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物質受到短波長X射線照射而二次產生的X射線稱為熒光X射線。正如太陽光包含各種波長的光一樣，X射線熒光包含各種波長的X射線，但在波長和強度光譜中存在許多尖銳的峰值。這些是材料中元素發(fā)射的特征X射線的峰值。當原子的電子殼層受到高能（短波長）X射線照射時，內層電子被彈出并移動到外殼層，形成不穩(wěn)定狀態(tài)。為了解決這種情況，電子從外部移動到空的內殼中，波長與兩個殼層之間的能量差相對應的X射線就成為特征X射線。通過每種特征X射線的du特波長可以識別元素，并可以根據其強度確定元素的含量。
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由于X射線熒光光譜儀可以輕松檢測金屬元素，因此常用于檢測產品中的異物以及確定重金屬造成的環(huán)境污染。此外，由于可以一次分析所有可測量的元素，因此非常適合分析成分未知的物質的組成，并廣泛應用于各種研究和調查。非熟練技術人員也可以使用，并且分析樣品的制備很容易或不需要。X射線熒光分析具有許多應用，因為它可以非破壞性、快速且輕松地進行化學分析。關注速度的分析示例如下。土壤、工業(yè)廢棄物、回收產品等中含有的有害元素檢測電子材料及元件中的雜質分析金屬材料、巖石、礦石、水泥、玻璃等成分分析植物中金屬、磷、硫等分
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使用溫度計測量溫度的方法因產品而異。測量方法主要有兩種：接觸式和非接觸式，根據檢測物體溫度的標準不同，方法也有所不同。接觸法是將溫度計的測量部分與被測固體、液體或氣體（稱為工件）直接接觸的測量方法。對于固體和液體工件，使用熱傳導，對于氣體工件，使用對流來讀取和測量溫度。許多采用這種測量方法的溫度計結構簡單，成本低廉。采用接觸法時，工件可能因直接接觸而損失熱量。這一問題已通過非接觸式方法得到解決，該方法可以在不直接接觸的情況下測量溫度。非接觸式方法利用固體或液體工件的輻射來讀取表面溫度，因此具有能
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溫度計是一種可以測量物體溫度的裝置。常用的溫度計有玻璃溫度計、雙金屬溫度計、輻射溫度計等。玻璃溫度計是將水銀或酒精作為感溫液體注入玻璃管中的溫度計。精度因所使用的玻璃和感溫液體而異，但如果選擇與測量對象相匹配的類型，則可以進行高精度測量。雙金屬溫度計是一種利用金屬膨脹的接觸式溫度計。雖然它的精度不如玻璃溫度計，但它非常耐用，并且可以穩(wěn)定地測量溫度。輻射溫度計是一種無需直接接觸物體即可測量物體的溫度計，在制造現場越來越受歡迎。溫度計的使用溫度計有多種類型，其測量方法、原理等規(guī)格各不相同。利用各自的
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1、拉伸試驗當樣本的末端被向外拉時，材料會與應力成比例地伸長。如果繼續(xù)施加力，應力與應變的比例關系打破，應力逐漸增大，這就是屈服點。如果繼續(xù)施加載荷，應力就會增加，當材料達到極xian時就會斷裂。這稱為斷點。萬能試驗機可以測量屈服點和斷裂點的應力和應變。2、彎曲試驗這是向測試件施加彎曲力并測量產生的應力和應變的測試。試驗有兩種類型：“三點彎曲試驗”，其中樣品兩端受到支撐并向樣品中心施加載荷，以及“四點彎曲試驗”在距兩端等距的位置施加相同的載荷。在三點彎曲試驗中，通過推動放置在支撐架上的樣品的中心
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萬能試驗機對塑料、陶瓷、金屬、木材、混凝土等各種材料施加拉伸、壓縮、彎曲、扭轉等應力，定量測定其強度、硬度等物理特性。。萬能試驗機進行靜態(tài)試驗。靜態(tài)試驗是對試件緩慢施加力，達到一定的載荷或變形后停止加載，測量試件的應變和變形量以檢驗強度的試驗方法。靜態(tài)試驗包括拉伸試驗、彎曲試驗、壓縮試驗、扭轉試驗、剝離試驗等各種試驗。每種類型的測試都有專用的測試機，通過用萬能測試機替換夾具，可以用一臺機器執(zhí)行這些靜態(tài)測試。萬能試驗機的使用萬能試驗機可以通過更換夾具和夾具，使用多種材料執(zhí)行多種測試。此外，從萬能試
