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DIC顯微鏡的工作原理基于相干光干涉現(xiàn)象

閱讀:104      發(fā)布時間:2025-6-30
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  微分干涉顯微鏡(DIC)通過偏振光干涉技術(shù),將樣品表面微小高度差異轉(zhuǎn)化為光程差,實現(xiàn)高對比度成像。
 
  微分干涉顯微鏡‌是一種利用相干光干涉現(xiàn)象進行高分辨率成像的顯微鏡技術(shù)。它通過將樣品表面形貌的變化轉(zhuǎn)化為光程差,利用位置敏感探測器檢測光波前的強度變化,并通過數(shù)字信號處理得到樣品表面的高度變化。DIC顯微鏡能夠以高分辨率和充足對比度觀察未染色的生物樣本,甚至產(chǎn)生出浮雕效果的圖像‌。
 
  工作原理
 
  DIC顯微鏡的工作原理基于相干光干涉現(xiàn)象。它利用偏振光在樣本內(nèi)產(chǎn)生的不同相移,通過干涉效應(yīng)增強結(jié)構(gòu)的對比度。具體來說,光源發(fā)出的光線經(jīng)過偏振片后變?yōu)榫€偏振光,進入微分干涉棱鏡后分為兩個垂直偏振平面的線性偏振光。這兩束光分別照射到樣本的不同區(qū)域,由于樣本厚度的差異導(dǎo)致兩束光的相位差不同,在目鏡中形成干涉圖樣,從而反映出樣本表面的形貌信息。
 
  DIC顯微鏡在多個領(lǐng)域有廣泛應(yīng)用:
 
  生物顯微學(xué) ‌:用于觀察細(xì)胞形態(tài)和結(jié)構(gòu),以及生物分子和蛋白質(zhì)的形態(tài)和互作。它還可以用于細(xì)胞和組織的三維成像和動態(tài)觀察‌。
 
  ‌ 材料科學(xué) ‌:用于研究材料的表面形貌和納米結(jié)構(gòu),如微型元件、納米粒子、生物材料等‌。
 
  半導(dǎo)體工業(yè) ‌:通過非接觸測量方式監(jiān)測半導(dǎo)體芯片的表面精度,提高生產(chǎn)過程的可靠性和效率‌。
 
  PCB質(zhì)量檢測 ‌:檢測PCB表面和內(nèi)部的細(xì)微缺陷,如開路、短路、裂紋等‌。
 
  精密機械制造 ‌:用于精密機械零件的表面質(zhì)量檢測和加工過程監(jiān)控‌。

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