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成都精新粉體測試設(shè)備有限公司

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成都精新JX-2000B型顯微圖像分析儀

2017-3-22  閱讀(978)

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因為粉體形態(tài)各異,在借助激光粒度儀測試的同時,選用JX-2000B型圖像分析儀,能更準(zhǔn)確直觀粒度形貌,控制分析好產(chǎn)品質(zhì)量。該系統(tǒng)由光學(xué)顯微鏡、USB攝像頭、圖像分析軟件、電腦、打印機等部分組成。

指標(biāo)與性能  

1、測試范圍0.5~3000μm

2、zui大放大倍數(shù)4000倍

3、zui大分辨率0.1μm

4、數(shù)字?jǐn)z像頭(CCD):300或500萬像素

5、顯微鏡:配置透反射顯微鏡(帶有金相功能)

6、標(biāo)尺刻度10μm

7、分析項目:粒度分布、長徑比分布、圓形度分布等

8、接口方式: USB方式

適用領(lǐng)域  

1、 粉體材料:金剛石、碳化硅、硅灰石、石英粉、硫酸鋇、石墨、鈷酸鋰、碳化硼、白剛玉、氧化鈰云母粉、碳粉、金屬粉等各種礦粉。

2、固體材料:陶瓷片表面晶體結(jié)構(gòu),金屬、合金表面晶形結(jié)構(gòu),其它不透光物體表面晶體結(jié)構(gòu)。

3、 用于驗證其他粒度測試的手段和方法。

 

儀器特點  

軟件功能強大,可根據(jù)行業(yè)特殊要求,設(shè)計磨料、硅灰石等軟件。采用全平場消色差物鏡,zui大分辨率0.07微米,zui大光學(xué)放大倍數(shù)1600倍,圖像打印zui大倍數(shù)4000倍,還可根據(jù)需要輸出多種格式的測試報告。

 

測試報告:

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