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當前位置：上海富瞻環(huán)?？萍加邢薰?/a>>>光譜色譜波譜質譜>>輪廓儀/臺階儀>> 光學輪廓儀NPFLEX 3D
| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號
品 牌Bruker/布魯克
廠商性質生產(chǎn)商
所 在 地上海市
更新時間：2025-07-04 16:58:33瀏覽次數(shù)：282次
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| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 產(chǎn)品種類 | 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀 |
|---|---|---|---|
| 價格區(qū)間 | 面議 | 應用領域 | 電子/電池,電氣 |
光學輪廓儀NPFLEX 3D
核心參數(shù)
產(chǎn)品種類：非接觸式輪廓儀/粗糙度儀
工作原理：白光干涉儀
產(chǎn)品介紹
簡介
NPFLEX三維表面測量系統(tǒng)是一款針對大樣品設計的非接觸測試分析系統(tǒng)，提供高效的三維表面信息測量，具備垂直方向亞納米分辨率，能靈活測量大尺寸及特殊角度的樣品。該系統(tǒng)基于白光干涉原理，可快速獲取詳細測量數(shù)據(jù)，適用于精密制造業(yè)，提高產(chǎn)品質量和生產(chǎn)力。它還提供了多種配件選擇，以滿足不同客戶的測量需求。
NPFLEX 三維表面測量系統(tǒng)
針對大樣品設計的非接觸測試分析系統(tǒng)
靈活測量大尺寸、特殊角度的樣品
高效的三維表面信息測量
垂直方向亞納米分辨率提供更多的細節(jié)
快速獲取測量數(shù)據(jù)，測試過程迅速高效
NPFLEX 為大尺寸工件精密加工提供準確測量
布魯克的NPFLEXTM 3D表面測量系統(tǒng)為精密制造業(yè)帶來的檢測能力，實現(xiàn)更快的測量時間，提高了產(chǎn)品質量和生產(chǎn)力?；诎坠飧缮娴脑?，這套非接觸系統(tǒng)提供的技術性能超出了傳統(tǒng)的的接觸式坐標測量儀（CMM）和工業(yè)級探針式輪廓儀的測量技術。測量優(yōu)勢包括獲得高分辨的三維圖像，進行快速豐富的數(shù)據(jù)采集，幫助用戶更深入地了解部件的性能和功能。積累幾十年的干涉技術和大樣本的儀器設計的經(jīng)驗，NPFLEXTM是第一個可以靈活地測量大尺寸樣品的光學測量系統(tǒng)，而且能夠高效快捷地獲得從微觀到宏觀等不同方面的樣品信息。
其靈活性表現(xiàn)在可用于測量表征更大的面型和更難測的角度樣品
創(chuàng)新性的空間設計使得可測零件（樣品）更大、形狀更多
開放式龍門、客戶定制的夾具和可選的搖擺測量頭可輕松測量想測部位
高效的三維表面信息測量
每次測量均可獲得完整表面信息,并可用于多種分析目的
更容易獲得更多的測量數(shù)據(jù)來幫助分析
垂直方向亞納米分辨率提供更多的細節(jié)
干涉技術實現(xiàn)每一個測量象素點上的亞納米級別垂直分辨率
工業(yè)界使用多年業(yè)已驗證的干涉技術提供具有統(tǒng)計意義的數(shù)據(jù)，為日漸苛刻的加工工藝提供保障
測量數(shù)據(jù)的快速獲取保證了測試的迅速和高效
最少的樣品準備時間和測量準備時間
比接觸法測量（一條線）更大的視場（一個面）獲得表面更多的數(shù)據(jù)
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