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深圳市中圖儀器股份有限公司

  • 晶圓厚度THK幾何量測系統(tǒng) 參考價(jià): ¥3000000

    參考價(jià): 3000000 型號(hào):WD4000
    WD4000晶圓厚度THK幾何量測系統(tǒng)兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。它通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的...
    型號(hào): WD4000 品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市 對(duì)比
    無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓厚度量測系統(tǒng)晶圓翹曲度量測系統(tǒng)晶圓彎曲度量測系統(tǒng)晶圓幾何量測系統(tǒng)
    2025/7/10 11:27:5682
  • 半導(dǎo)體晶圓形貌測量機(jī) 參考價(jià): ¥3000000

    參考價(jià): 3000000 型號(hào):WD4000
    WD4000半導(dǎo)體晶圓形貌測量機(jī)兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測量分析...
    型號(hào): WD4000 品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市 對(duì)比
    無圖晶圓幾何量系統(tǒng)晶圓形貌測量機(jī)晶圓翹曲度測量機(jī)晶圓粗糙度測量機(jī)晶圓測量機(jī)
    2025/6/30 9:41:03152
  • 晶圓厚度測量設(shè)備 參考價(jià): ¥3000000

    參考價(jià): 3000000 型號(hào):WD4000
    WD4000晶圓厚度測量設(shè)備可測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的厚度、粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等,實(shí)現(xiàn)砷化鎵...
    型號(hào): WD4000 品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市 對(duì)比
    晶圓測量設(shè)備晶圓厚度測量晶圓翹曲度測量無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓檢測設(shè)備
    2025/6/18 10:37:42184
  • 無圖晶圓厚度翹曲量測系統(tǒng) 參考價(jià): ¥3000000

    參考價(jià): 3000000 型號(hào):WD4000
    WD4000無圖晶圓厚度翹曲量測系統(tǒng)過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測量測同時(shí)有效防...
    型號(hào): WD4000 品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市 對(duì)比
    無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓厚度測量系統(tǒng)晶圓翹曲度測量系統(tǒng)晶圓測量設(shè)備晶圓量測系統(tǒng)
    2025/6/16 11:10:30197
  • 晶圓幾何形貌在線測量系統(tǒng) 參考價(jià): ¥3000000

    參考價(jià): 3000000 型號(hào):WD4000
    WD4000晶圓幾何形貌在線測量系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍(lán)寶石、硅、碳化硅、玻璃不同材質(zhì)晶圓的量測。兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量...
    型號(hào): WD4000 品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市 對(duì)比
    晶圓幾何測量系統(tǒng)晶圓形貌測量系統(tǒng)晶圓測量系統(tǒng)無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓測量設(shè)備
    2025/5/30 10:20:37228
  • 晶圓Warp翹曲度量測系統(tǒng) 參考價(jià): ¥3000000

    參考價(jià): 3000000 型號(hào):WD4000
    WD4000晶圓Warp翹曲度量測系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍(lán)寶石、硅、碳化硅、玻璃不同材質(zhì)晶圓的量測。兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測...
    型號(hào): WD4000 品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市 對(duì)比
    晶圓量測系統(tǒng)晶圓Warp量測系統(tǒng)晶圓翹曲度量測系統(tǒng)晶圓幾何形貌量測系統(tǒng)晶圓形貌量測系統(tǒng)
    2025/5/20 10:29:51338
  • 晶圓膜厚測量設(shè)備 參考價(jià): ¥3000000

    參考價(jià): 3000000 型號(hào):WD4000
    WD4000系列晶圓膜厚測量設(shè)備可實(shí)現(xiàn)砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍(lán)寶石、硅、碳化硅、玻璃不同材質(zhì)晶圓的量測。兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大翹...
    型號(hào): WD4000 品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市 對(duì)比
    晶圓厚度測量晶圓測量設(shè)備半導(dǎo)體測量設(shè)備晶圓厚度測量儀無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)
    2025/4/24 14:52:56348
  • 晶圓幾何尺寸量測設(shè)備 參考價(jià): ¥3000000

    參考價(jià): 3000000 型號(hào):WD4000
    WD4000系列晶圓幾何尺寸量測設(shè)備通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測量測同時(shí)有效...
    型號(hào): WD4000 品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市 對(duì)比
    晶圓量測設(shè)備晶圓幾何量測設(shè)備無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓檢測設(shè)備半導(dǎo)體晶圓
    2025/4/9 11:38:18518
  • 晶圓微觀幾何輪廓測量系統(tǒng) 參考價(jià): ¥3000000

    參考價(jià): 3000000 型號(hào):WD4000
    WD4000系列晶圓微觀幾何輪廓測量系統(tǒng)通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測量測同時(shí)...
    型號(hào): WD4000 品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市 對(duì)比
    晶圓測量設(shè)備無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓輪廓測量半導(dǎo)體設(shè)備晶圓檢測設(shè)備
    2025/4/9 10:48:17457
  • 晶圓翹曲度幾何量測系統(tǒng) 參考價(jià): ¥3000000

    參考價(jià): 3000000 型號(hào):WD4000
    WD4000晶圓翹曲度幾何量測系統(tǒng)兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。儀器通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測...
    型號(hào): WD4000 品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市 對(duì)比
    晶圓翹曲度測量系統(tǒng)晶圓幾何量測系統(tǒng)無圖晶圓量測系統(tǒng)晶圓量測設(shè)備晶圓檢測機(jī)
    2025/4/9 10:02:41580
  • 晶圓幾何形貌量測機(jī) 參考價(jià): ¥3000000

    參考價(jià): 3000000 型號(hào):WD4000
    WD4000晶圓幾何形貌量測機(jī)兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù),完成非接觸...
    型號(hào): WD4000 品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市 對(duì)比
    半導(dǎo)體晶圓晶圓測量機(jī)晶圓形貌測量儀晶圓檢測無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)
    2025/4/9 8:59:36553
  • 高精度晶圓厚度幾何量測系統(tǒng) 參考價(jià): ¥3000000

    參考價(jià): 3000000 型號(hào):WD4000
    WD4000高精度晶圓厚度幾何量測系統(tǒng)通過非接觸測量,將晶圓上下面的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度、粗糙度、總體厚度變化(TTV),有效保...
    型號(hào): WD4000 品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市 對(duì)比
    晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓厚度測量晶圓測量設(shè)備厚度測量儀半導(dǎo)體晶圓
    2025/4/9 8:09:45557
  • 半導(dǎo)體晶圓幾何表面形貌檢測設(shè)備 參考價(jià): ¥3000000

    參考價(jià): 3000000 型號(hào):WD4000
    WD4000半導(dǎo)體晶圓幾何表面形貌檢測設(shè)備兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。它通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)...
    型號(hào): WD4000 品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市 對(duì)比
    半導(dǎo)體晶圓檢測晶圓形貌檢測設(shè)備晶圓幾何檢測設(shè)備晶圓檢測設(shè)備半導(dǎo)體檢測設(shè)備
    2025/4/8 21:43:32815
  • 晶圓微觀三維形貌測量系統(tǒng) 參考價(jià): ¥3000000

    參考價(jià): 3000000 型號(hào):WD4000
    WD4000晶圓微觀三維形貌測量系統(tǒng)自動(dòng)測量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。非接觸厚度、三維微納形貌一體測量!
    型號(hào): WD4000 品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市 對(duì)比
    晶圓測量系統(tǒng)晶圓三維形貌儀晶圓形貌測量系統(tǒng)晶圓量測設(shè)備半導(dǎo)體晶圓測量
    2025/4/8 20:48:46918
  • 晶圓微納幾何三維形貌測量系統(tǒng) 參考價(jià): ¥3000000

    參考價(jià): 3000000 型號(hào):WD4000
    WD4000晶圓微納幾何三維形貌測量系統(tǒng)兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的...
    型號(hào): WD4000 品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市 對(duì)比
    晶圓形貌測量系統(tǒng)晶圓幾何測量系統(tǒng)晶圓測量設(shè)備無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓形貌測量系統(tǒng)
    2025/4/8 20:02:46897
  • 晶圓微納三維形貌量測系統(tǒng) 參考價(jià): ¥3000000

    參考價(jià): 3000000 型號(hào):WD4000
    WD4000晶圓微納三維形貌量測系統(tǒng)兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確??蓪?shí)現(xiàn)砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍(lán)...
    型號(hào): WD4000 品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市 對(duì)比
    無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓形貌測量晶圓測量系統(tǒng)晶圓測量設(shè)備晶圓表面粗糙度
    2025/4/8 19:33:07805
  • 晶圓細(xì)磨硅片粗糙度測量系統(tǒng) 參考價(jià): ¥3000000

    參考價(jià): 3000000 型號(hào):WD4000
    WD4000晶圓細(xì)磨硅片粗糙度測量系統(tǒng)兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。它采用白光干涉測量技術(shù)對(duì) Wafer 表面進(jìn)行非接...
    型號(hào): WD4000 品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市 對(duì)比
    硅片粗糙度測量設(shè)備晶圓粗糙度測量儀無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓粗糙度測量系統(tǒng)晶圓粗糙度測量儀
    2025/4/8 18:58:18858
  • 半導(dǎo)體晶圓厚度量測系統(tǒng) 參考價(jià): ¥3000000

    參考價(jià): 3000000 型號(hào):WD4000
    WD4000半導(dǎo)體晶圓厚度量測系統(tǒng)通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,在高效測量測同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。它自動(dòng)測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維...
    型號(hào): WD4000 品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市 對(duì)比
    晶圓厚度測量儀晶圓量測系統(tǒng)晶圓幾何量測系統(tǒng)無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)半導(dǎo)體晶圓量測系統(tǒng)
    2025/4/8 18:26:191003
  • 無圖晶圓粗糙度測量系統(tǒng) 參考價(jià): ¥3000000

    參考價(jià): 3000000 型號(hào):WD4000
    WD4000無圖晶圓粗糙度測量系統(tǒng)提供幾何輪廓分析、粗糙度分析、結(jié)構(gòu)分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能。其中粗糙度分析包括國際標(biāo)準(zhǔn)ISO4287 的線粗糙度...
    型號(hào): WD4000 品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市 對(duì)比
    無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓粗糙度測量系統(tǒng)晶圓測量系統(tǒng)晶圓形貌檢測系統(tǒng)半導(dǎo)體晶圓測量
    2025/4/8 17:30:11786
  • 半導(dǎo)體晶圓表面幾何形貌檢測系統(tǒng) 參考價(jià): ¥3000000

    參考價(jià): 3000000 型號(hào):WD4000
    WD4000半導(dǎo)體晶圓表面幾何形貌檢測系統(tǒng)通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測量測同...
    型號(hào): WD4000 品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市 對(duì)比
    半導(dǎo)體晶圓檢測系統(tǒng)晶圓幾何檢測系統(tǒng)晶圓形貌檢測系統(tǒng)無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓表面檢測系統(tǒng)
    2025/4/8 16:55:58840
  • 晶圓厚度Wafer參數(shù)量測設(shè)備 參考價(jià): ¥3000000

    參考價(jià): 3000000 型號(hào):WD4000
    WD4000晶圓厚度Wafer參數(shù)量測設(shè)備通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測量測同...
    型號(hào): WD4000 品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市 對(duì)比
    晶圓量測設(shè)備晶圓厚度量測設(shè)備晶圓Wafer量測設(shè)備半導(dǎo)體晶圓量測無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)
    2025/4/8 16:25:24837
  • 晶圓表面形貌量測設(shè)備 參考價(jià): ¥3000000

    參考價(jià): 3000000 型號(hào):WD4000
    WD4000晶圓表面形貌量測設(shè)備兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。它通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測量分...
    型號(hào): WD4000 品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市 對(duì)比
    晶圓形貌量測設(shè)備晶圓表面量測設(shè)備半導(dǎo)體晶圓量測設(shè)備無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓檢測設(shè)備
    2025/4/8 16:00:08802
  • 半導(dǎo)體晶圓形貌檢測機(jī) 參考價(jià): ¥3000000

    參考價(jià): 3000000 型號(hào):WD4000
    WD4000半導(dǎo)體晶圓形貌檢測機(jī)通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測量測同時(shí)有效防止...
    型號(hào): WD4000 品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市 對(duì)比
    無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓形貌檢測機(jī)半導(dǎo)體晶圓檢測機(jī)晶圓檢測機(jī)晶圓測量機(jī)
    2025/4/8 15:08:02685
  • 晶圓wafer厚度測量設(shè)備 參考價(jià): ¥3000000

    參考價(jià): 3000000 型號(hào):WD4000系列
    WD4000晶圓wafer厚度測量設(shè)備通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測量測同時(shí)有...
    型號(hào): WD4000系列 品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市 對(duì)比
    晶圓測量設(shè)備晶圓厚度測量設(shè)備無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓形貌測量設(shè)備晶圓測量機(jī)
    2025/4/8 14:33:57952

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