原位樣品桿是一種用于電子顯微鏡（如透射電子顯微鏡 TEM 或掃描電子顯微鏡 SEM）的特殊樣品桿，能夠在觀察樣品的同時，對樣品施加外部刺激（如加熱、冷卻、拉伸、壓縮、電場、磁場、氣體或液體環(huán)境等），以實時研究材料在不同條件下的動態(tài)行為和結(jié)構(gòu)變化。這種技術(shù)為材料科學(xué)、納米技術(shù)、催化、能源等領(lǐng)域的研究提供了強大的工具。

　　技術(shù)優(yōu)勢

　　◆ 適配性：適配ThermoFisher/JEOL/Hitachi等品牌各類型電鏡

　　◆ 雙軸傾轉(zhuǎn)：α/β雙軸傾轉(zhuǎn)

　　◆ 優(yōu)異冷凍功能：溫度<-170℃

　　主要應(yīng)用

　　◆ 低溫原位相變

　　◆ 凝聚態(tài)物理

　　◆ 超導(dǎo)

　　◆ 電子束敏感材料

　　◆ 磁性材料

樣品桿Tip雙傾實機圖

冷凍樣品桿實物圖

配套分子泵抽氣站