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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>測厚儀>白光干涉測厚儀>F54-XY-200 Filmetrics 自動光學膜厚測量儀

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F54-XY-200 Filmetrics 自動光學膜厚測量儀

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 優(yōu)尼康科技有限公司
  • 品牌 KLA-Tencor
  • 型號 F54-XY-200
  • 產(chǎn)地 美國
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時間 2025/6/24 14:02:29
  • 訪問次數(shù) 1544

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優(yōu)尼康科技有限公司成立于 2012 年。在香港、上海、東莞、天津、成都和蘇州設有分支機構或辦公室。從成立伊始一直專注于精密薄膜測量領域,為半導體、面板等高科技企業(yè)和高校及研發(fā)中心提供精密測量設備與解決方案。我們秉承“真誠,專注,信賴”的理念,用我們真誠的態(tài)度與行動服務客戶,專注于為客戶提供好品質(zhì)、適合用戶需求的產(chǎn)品,與每一位客戶建立互相信賴的合作伙伴關系。我們真誠希望與大家共同成長,共同發(fā)展,一起創(chuàng)造美好的明天。







主動式減震臺,Profilm3D光學輪廓儀,Filmetrics膜厚測量儀,薄膜厚度測量儀,粗糙度測量,輪廓測量,橢偏儀

產(chǎn)地類別 進口 價格區(qū)間 面議
應用領域 化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,航空航天,汽車及零部件

Filmetrics F54-XY-200 自動光學膜厚測量儀




Filmetrics F54-XY-200 自動光學膜厚測量儀產(chǎn)品介紹:

Filmetrics F54-XY-200 自動光學膜厚測量儀借助光譜反射系統(tǒng),可以測量尺寸達200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點并提供厚度測量,達到每秒兩點。您可以從數(shù)十種預定義的極性,矩形或線性測量坐標圖案中選擇,也可以創(chuàng)建自己編輯的測量點數(shù)量。此桌面系統(tǒng)只需幾分鐘即可完成設置,任何具有基本計算機技能的人都可以使用。



Filmetrics F54-XY-200 自動光學膜厚測量儀產(chǎn)品特點優(yōu)勢:

  • 自動化薄膜厚度繪圖系統(tǒng),快速定位、實時獲得結果;

  • 可測樣品膜層:基本上所有光滑的。非金屬的薄膜都可以測量;

  • 測繪結果可用2D或3D呈現(xiàn),方便用戶從不同的角度檢視;



Filmetrics F54-XY-200 自動光學膜厚測量儀測量原理:

當入射光穿透不同物質(zhì)的界面時將會有部分的光被反射,由于光的波動性導致從多個界面的反射光彼此干涉,從而使反射光的多波長光譜產(chǎn)生震蕩的現(xiàn)象。從光譜的震蕩頻率,可以判斷不同界面的距離進而得到材料的厚度(越多的震蕩代表越大的厚度),同時也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。



Filmetrics F54-XY-200 自動光學膜厚測量儀工業(yè)應用:

半導體膜層

顯示技術

消費電子

派瑞林

光刻膠

OLED

防水涂層

電子產(chǎn)品/電路板

介電層

ITO和TCOs

射頻識別

磁性材料

砷化鎵

空氣盒厚

太陽能電池

醫(yī)學器械

微機電系統(tǒng)

PVD和CVD

鋁制外殼陽極膜

硅橡膠


Filmetrics F54-XY-200 自動光學膜厚測量儀參數(shù):

波長范圍:

190nm-1700nm

光源:

鎢鹵素燈、氘燈

測量nk值厚度要求*:

50nm

測量精度2:

0.02nm

準確度*:取較大者

1nm或0.2%

穩(wěn)定性3:

0.05nm

更多參數(shù)可聯(lián)系我們獲取


Filmetrics F54-XY-200 自動光學膜厚測量儀測量圖:





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